Maxwell教程04-2D涡流场仿真-实心导体的集肤效应欧姆损耗和交流电阻

文章目录
  1. 1. 背景介绍
  2. 2. 建模
  3. 3. 材料
  4. 4. 激励
  5. 5. 边界
  6. 6. 网格
  7. 7. 求解
  8. 8. 后处理
  9. 9. 参考资料

基于B站视频手把手教你Maxwell-2D涡流场仿真-实心导体的集肤效应欧姆损耗和交流电阻整理的学习笔记,视频原作者为搞仿真的晴博
为了节约流量,使网页更快打开,整理的笔记以文字为主,不会有太多图片,所以最好配合视频来看笔记
我使用的软件版本为2023R1,与原视频软件版本2022R1不同,也有个人操作问题,会使实验结果与原视频不同,一切以原视频为准。

背景介绍

当导体置于交变磁场中时,与磁场正交的曲面上产生闭合的感应电流,被称为涡流(Ebby Current)。
这会导体内部电流分布不均匀,使电流集中在导体的表面,越靠近导体表面电流密度越大,越深入导体内部电流密度越小。这使得导体的电阻增加,这种现象被称为集肤效应(Skin Effect)。
透入深度(Skin Depth)指导体中的电流密度下降到表面电流密度的\(\frac{1}{e}\)(即0.368倍)时的厚度,其大小反映电磁场衰减的快慢。 \[d=\frac{1}{\alpha}=\sqrt{\frac{2}{\mu \gamma \omega} }\] 由公式可见透入深度\(d\)与电流角频率\(\omega\)、导体电导率\(\gamma\)与磁导率\(\mu\)成反比。
图1 集肤效应

集肤效应是电子电气产品中最常见的现象,有危害也有优点。它的应用也很广泛,例如应用在深槽笼型异步电动机中,通过其窄而深的电动机转子槽,可以提高电机起动时的转子电阻,进而提高起动转矩。

本次实验将对一个简单的实心导体进行2D涡流场仿真,并计算其透入深度、涡流损耗与交流电阻。

建模

Ansys Electronics Desktop,启动!!!
Maxwell 2D,启动!!!
首先画一个实心导体横截面,点击Draw菜单栏中的圆形图标画一个圆,Radius设为5mm。
再画一个空气域,点击Draw菜单栏中的Create Region(红色边框空心正方体)图标,设置Percentage Offset值为200,表示在已经画出来的几何模型基础上扩大200%的区域内建立空气域。

材料

在实心导体横截面的属性界面中,将其名字修改为“Conductor”,材料设置为“steel_1008”。
也可以自己创建材料,修改材料的磁化曲线。将材料属性中Relative Permeability(相对磁导率)的类型设置为Nonlinear(非线性),点B-H Curve即可一一输入数据修改其磁化曲线。

激励

再加一个电流,选取导体右键Assign Excitation->Current,选择电流为14.14A(电流峰值为14.14A,相当于电流有效值为10A)。Phase(相位)0度,Type选择Solid(实心),Ref.Direction(参考方向)默认为正方向。
(2D仿真时没有Phase与Type,3D仿真时没有Phase与Ref.Direction,原因不明)

边界

再建一个气球边,用于模拟无限远处。右键仿真区域Selection Mode->Edge将选取模式改为边界,选中空气域的四个边。右键Assign Boundary->Balloon,确认后就可在Project Manager窗口Boundries->Balloon1看到这个气球边。

网格

仍然是边界选取模式,选中实心导体的边,右键Assign Mesh Operation->Inside Selection->Skin Depth Layers Based,弹出的窗口点击Calculate Skin Depth计算透入深度,Relative Permeability相对磁导率设置为1200,Conductivity导体电导率已经导入,为2000000mhos/m不用改变,Frequency频率设置为Hz。确认后计算出的透入深度为1.45287918553816mm。
Number of Layers修改为3。(这里要求每层对应的厚度,即透入深度除以层数要小于0.5mm)

求解

右键Project Manager中的Analysis->Add Solution Setup,进入求解设置界面,收敛误差Percent Error修改为0.1%。
Solver选项卡下Adaptive Frequency设置为50Hz。(这一项在我的界面没有,原因不明。)
点击菜单栏Maxwell 2D->Analyze All开始求解。

后处理

再看一下磁场分布,选中截面后右键Fields->B->Mag_B。
图2 磁通密度
接下来看从导体圆心到导体边缘路径的磁通密度大小变化。点击菜单栏Draw->Draw Line(直线)绘制一条圆心出发到导体边缘的线段。点击CreateLine可以修改点的坐标Point1为0,0,0,Point2为5,0,0。
在Project Manager窗口Create Fields Report->Rectangular Plot。弹出的窗口Context->Geometry选择Polyline1,X轴坐标保持默认Distance(距离),Y轴坐标选择Mag_B(磁通密度)。点击New Report就可生成随线段路径上的点的位置变化的磁通密度曲线,如下图所示(与原视频有出入,但总体趋势正确,越靠近边缘磁场越强)。
图3 磁通密度曲线

再看一下电流密度曲线,与上面的操作相同,Y轴坐标选择JAtPhase,点击New Report即可。
(选项里没有JAtPhase,取而代之的是Jz,图像也完全不对,原因不明,这里就不放图像了。)

再看一下集肤效应欧姆损耗,可以右键Project Manager窗口Results->Solution Data选择Loss选项卡,Solid Loss一栏即为所求欧姆损耗。
(原视频结果为1.5175w,我这里是0,原因不明)
也可以用菜单栏Maxwell 2D->Fields->Caculator进入计算界面,单击Input栏的Quantity选择Ohm Loss(欧姆损耗),Geometry(域)选择Conductor,点击Scalar栏下的积分符号,对欧姆损耗在导体范围内做积分。单击Eval即可得到导体欧姆损耗累计值为1.27362968169993w。
(原视频结果为1.5175w)

最后计算交流电阻,可以通过公式\(P_{AC}=I^2 * R_{AC}\)求得,其中欧姆损耗\(P_{AC}=1.27W\),电流\(I=10A\),求出交流电阻\(R_{AC}=0.0127\Omega\)

参考资料